EMC系統(tǒng)測(cè)試-EMC 系統(tǒng)測(cè)試-洋嘉電子(推薦商家)

emc系統(tǒng)測(cè)試方案
這是一種靈活、可靠的解決方案，emc系統(tǒng)測(cè)試，可用來按照iec/en 61000-4-3標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行ems輻射測(cè)試。該*的測(cè)試平臺(tái)包括ems和emi測(cè)試需要的所有部件，emc系統(tǒng)測(cè)試解決方案，覆蓋了預(yù)認(rèn)證和認(rèn)證測(cè)試要求的所有通用頻段和場(chǎng)強(qiáng)。鑒于系統(tǒng)的模塊化設(shè)計(jì)和多樣化配置功能，用戶可以對(duì)其進(jìn)行調(diào)整以適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的變更和廠家特殊測(cè)試要求。它主要研究電磁波輻射，電磁干擾，雷擊，電磁材料等方面。該系統(tǒng)還可以擴(kuò)展以應(yīng)對(duì)未來技術(shù)和新的emc應(yīng)用。
emi（electro-magnetic interference）---電磁騷擾測(cè)試
emi測(cè)試主要內(nèi)容：
radiated emission －輻射騷擾測(cè)試
conducted emission－傳導(dǎo)騷擾測(cè)試
harmonic－諧波電流騷擾測(cè)試
flicker－電壓變化和閃爍測(cè)試
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1. 傳導(dǎo)功率測(cè)試面積 gt; 7x1m。
2. 傳導(dǎo)電壓測(cè)試桌：推薦 2x1.5x0.8，要考慮柜式設(shè)備的測(cè)試面積。
3. 諧波及閃爍測(cè)試面積 gt;2x2。
4. 靜電放電測(cè)試桌：推薦 2x1.5x0.8。
5. 瞬變及電源質(zhì)量測(cè)試桌： 推薦 2x1.5x0.8，emc 系統(tǒng)測(cè)試，可用同一張測(cè)試桌。
6. 傳導(dǎo)射頻敏感度測(cè)試桌： 推薦 2x1.5x0.8，可用同一張測(cè)試桌。
7. 屏蔽室和實(shí)驗(yàn)室要有相應(yīng)的溫濕度要求。
8. 敏感度測(cè)試時(shí)周圍不能有敏感設(shè)備。
9. 在實(shí)驗(yàn)室做測(cè)試時(shí)，emc系統(tǒng)測(cè)試 解決方案，周圍不能有發(fā)射或干擾設(shè)備，否則測(cè)試要在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行。
10. 除功率放大器和諧波，閃爍系統(tǒng)為三相供電外，其他設(shè)備均為單相供電。
11.以上為測(cè)試環(huán)境要求。
12 所有測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，如需要*的請(qǐng)對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照表 。
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